粉末X線回折装置

X線を結晶面に照射したときに生じる回折X線を測定することによって、物質の結晶構造を調べることができます。

1.概要

X線を結晶面に照射したときに生じる回折X線を測定することによって、物質の結晶構造を調べることができます。

2.特徴

粉末試料で結晶相の同定・定量分析、結晶性の良否の判定が可能です。また、CCDカメラで観察することで微小部の測定も可能です。

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