X線回折装置

X線を結晶面に照射したときに生じる回折X線を測定することにより、その物質を構成する原子の種類とその配列によって決定される構造、その集合組織など、固体中の原子の幾何学的配置について多くの知見が得られます。すなわち、試料の同定、新しい物質の結晶構造解析や集合組織観察、混合物の定量的な議論などを行うことが可能です。