粉末Ｘ線回折装置

１．概要

Ｘ線を結晶面に照射したときに生じる回折Ｘ線を測定することによって、物質の結晶構造を調べることができます。

２．特徴

粉末試料で結晶相の同定・定量分析、結晶性の良否の判定が可能です。また、CCDカメラで観察することで微小部の測定も可能です。